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半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統-SPM900 參考價：300000
半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統-SPM900，PL測試是一種無損的測試方法，可以快速、便捷地表征半導體材料的缺陷、雜質以及材料的發光性能。
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組 參考價：200000
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組，針對半導體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環節自動化視覺檢測需求。
深紫外寬禁帶半導體熒光測試OminFluo990 參考價：面議
深紫外寬禁帶半導體熒光測試系統OminFluo990-DUV，基于我司20年左右的第三代半導體表征測試經驗，可以有效地對寬禁帶與超寬禁帶半導體材料例如AlN和A...
深紫外光電流測試系統DSR300-DUV 參考價：面議
深紫外光電流測試系統DSR300-DUV，通過193的脈沖激光器或者等離子體光源+單色儀的連續193光源，對器件的光電流響應進行測量，測量速度約4KHZ，同時通...
SPM300半導體晶圓應力與載流子濃度檢測儀 參考價：面議
卓立漢光SPM300半導體晶圓應力與載流子濃度檢測儀，拉曼光譜作為一種非破壞性檢測技術，能夠高靈敏度地檢測材料中的應力狀態。其原理基于光與材料內化學鍵的相互作用...
晶圓缺陷參數檢測 : 非接觸測試解決方案 參考價：面議
晶圓缺陷參數檢測 : 非接觸測試解決方案，基于我司自主研發的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發光和拉曼光譜等核心測試技術，聯合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價：面議
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組，以自動化顯微鏡模組為基礎，針對 SiC 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
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